新闻资讯

4月13日，在第47届日内瓦国际发明展上，中国代表团成员精测电子展出的“一种用于评估DeMura设备亮度测量精度的方法”的发明成果得到国际专家评审团一致认可，被授予本届国际发明展金奖。

瑞士日内瓦国际发明展创办于1973年，由世界知识产权组织、瑞士联邦政府、日内瓦州政府、日内瓦市政府共同举办，是全球举办历史最长，规模最大的发明展之一。在每届展会上，由80多位著名专家组成的国际评审团对每项参展项目进行严格评审，评选出优秀参展发明项目，奖项被世界各国广泛认可。

精测电子致力于成为全球优秀的良率管理服务提供商，以提升面板良品率为技术创新动力。本次参展项目提出的一种定量评估OLED DeMura系统优劣的技术方法和评价依据，为OLED DeMura设备及技术标准化奠定了重要基础，开创了提升OLED面板良品率技术领域先河。